Sunday, April 13, 2008

XRD Sample Characterization

Dah 2 hari straight dah mesin XRD (X-ray diffraction) kat bawah tu ONnnnn jer memanjang. Sekeping sample amik masa 12 jam utk omega & omega/2theta scan. Satu hari boleh characterize 2 keping sample jer, n of course 24 hours non-stop per day. Dah penat dah berkelah kat dlm bangunan nih.

Jap tadi ingat nak pegi tido kat tingkat 4, cek XRD kat tingkat 1... rupa-rupanya X-ray generator nyer power putus lagi!!! Haiyyyaaa... problem maa. Rugi masa 6 jam, tetiba kena abort kat tengah2! Astaghfirullahalazim. Kena restart balik mesin, dan restart measurement dari awal... uwaaa, sedihnyer! Sepatutnya measuremnt nih siap tepat jam 9 pagi esok. Tp, nampaknya kol 4 petang esok baru boleh siap.

Ya Allah... harap2 measurement yg re-do nih x-ray power tak terputus lagi. Banyak abis masa. Ngantuk nih... tgh heat-up balik x-ray generator tu, kol 4 pagi nnt baru boleh start balik measurement. Sedey. Dugaan sungguh kali nih. Tp Alhamdulillah, stakat separuh result yg keluar tadi, mmg quantum well nyer fringe-peaks mmg lawa sangat2, even on Si substrate, even on SLS (strained-super-lattice)!

No comments: